在其最新的视觉技术和自动化解决方案扩展中，巴鲁夫 推出了 BOS R254K 传感器系列，并将短波红外 (SWIR) 和紫外线 (UV) 技术集成到其现有的相机平台中。这些最新产品丰富了该公司的传感器和自动化解决方案系列，可增强质量检查和苛刻的物体检测应用。
Balluff 的新型 BOS R254K光电传感器。图片由Balluff提供
BOS R254K 光电传感器
Balluff 的新型 BOS R254K 光电传感器系列 在设计时充分考虑了公司的智能自动化和监控系统 (SAMS) 理念。新型传感器系列具有功能和诊断功能，可实现标准化配置和操作，从而确保无缝集成到各种工业应用中。IO-Link V1.1（智能传感器配置文件 2）和一系列操作模式的加入旨在简化配置和集成到用户现有系统中的过程。
光电传感器有多种型号，包括对射式、反射式和具有背景抑制功能的漫反射式。采用飞行时间 (TOF) 技术的传感器版本可实现独立于物体和小部件的检测。这些 TOF 版本的检测范围可达 1000 毫米。
BOS R254K 光电传感器系列用于物体检测。图片由Balluff提供
严苛环境下的传感
就光电传感器的应用而言，新系列非常适合包装和食品加工等要求严格的行业，在这些行业中，清洁周期可能会使传感器承受高压和刺激性清洁剂。经 Ecolab 认证，新系列光电传感器具有耐清洁剂性。这一特性以及 IP67 和 IP69K 等级使新系列传感器能够应对恶劣的自动化工厂环境。
新型传感器配备状态监测功能，可提高工厂可用性和可靠性。这些功能通过自我监测功能提供有价值的诊断和应用数据。BOS R254K 传感器系列还提供全面的环境数据，包括温度、湿度、污染、振动和倾斜度，这对于主动维护至关重要。
短波红外 (SWIR) 和紫外线 (UV)
巴鲁夫将 新型 UV 和 SWIR 图像传感器集成到公司现有的 USB3、10GigE 和 GigE 相机中，从而扩展了其视觉功能，实现了可见光谱以外的成像。得益于采用全局快门技术的 Sony Pregius S CMOS 传感器，新型相机型号分别在 UV 和 SWIR 范围内提供 200 nm 至 1700 nm 的高分辨率和图像质量。这些新型相机不仅与现有相机平台保持兼容，还遵守 GenICam、GigE Vision 和 USB3 Vision 标准，从而简化了与现有系统的集成。
图像处理应用程序
在应用方面，巴鲁夫的新型 UV 和 SWIR 相机开辟了潜在的工业用例。UV 相机特别适用于通过检测高压电缆中的电晕放电来识别绝缘缺陷。UV 传感器还适用于晶圆检查和通过区分透明塑料来分类废物。另一方面，SWIR 相机擅长检查农产品、检查透皮贴剂等医疗产品中的活性成分，以及在烟雾弥漫或多雾的环境中监测不透明容器中的填充水平。
新型 SWIR 相机正在检查透皮贴剂。图片由Balluff提供
推动传感器创新
随着现代工业设备中要求苛刻的应用越来越多，工程师们正在寻求能够轻松应对其应用的检测和自动化解决方案。巴鲁夫的新型 BOS R254K 传感器系列以及 SWIR 和 UV 技术与其相机平台的集成标志着视觉和自动化技术的显著进步，为各种行业提供了可靠性、性能和应用可能性的平衡。